Kompletní sada mikroskopu s rastrující sondou (SPM) s veškerým příslušenstvím podle následujících specifikací, které by měly umožnit veškeré operace v kapalinách a na vzduchu. Možné měřící módy musí být Contact, Non-Contact, Intermittent contact, MFM, EFM, STM, nanolitografie a nanoindentace. AFM bude využíváno pro měření vlastností materiálů ...